Contact Epic是專注于工業(yè)自動(dòng)化與精密檢測(cè)技術(shù)的美國(guó)高新技術(shù)企業(yè)，成立于1995年，總部位于德克薩斯州，致力于為能源、航空航天及高端制造領(lǐng)域提供高可靠性傳感器、智能控制系統(tǒng)及定制化工業(yè)檢測(cè)設(shè)備。產(chǎn)品以極端環(huán)境適應(yīng)性、微秒級(jí)響應(yīng)速度與工業(yè)級(jí)穩(wěn)定性為核心優(yōu)勢(shì)，廣泛應(yīng)用于油氣管道泄漏監(jiān)測(cè)、航空發(fā)動(dòng)機(jī)振動(dòng)分析及半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)場(chǎng)景。

核心產(chǎn)品系列：  

工業(yè)自動(dòng)化控制系統(tǒng)  

- Epic-Controller系列邊緣計(jì)算控制器：適配復(fù)雜工業(yè)協(xié)議解析與實(shí)時(shí)控制任務(wù)，處理速度≥2 GHz，支持1000個(gè)I/O點(diǎn)擴(kuò)展，內(nèi)置AI算法加速模塊與冗余電源設(shè)計(jì)，通過(guò)IEC 61131-3控制標(biāo)準(zhǔn)，防護(hù)等級(jí)IP67。  

- Epic-Sensor系列多參數(shù)監(jiān)測(cè)傳感器：用于高溫/高壓設(shè)備狀態(tài)檢測(cè)，溫度范圍-200℃~1500℃，壓力監(jiān)測(cè)精度±0.01% F.S.，配備自校準(zhǔn)算法與無(wú)線Mesh傳輸接口，通過(guò)API 1164油氣設(shè)備安全認(rèn)證，支持腐蝕性環(huán)境長(zhǎng)期運(yùn)行。  

精密檢測(cè)設(shè)備  

- Epic-Inspection系列激光掃描儀：用于航空部件表面缺陷檢測(cè)，掃描分辨率0.1 μm，掃描速度500 mm/s，支持多光譜成像與AI缺陷分類，通過(guò)NADCAP航空材料檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，防護(hù)等級(jí)IP54。  

- Epic-Ultrasound系列超聲波探傷儀：適配焊縫/管道內(nèi)部裂紋檢測(cè)，頻率范圍0.5-25 MHz，靈敏度≥120 dB，配備自適應(yīng)噪聲抑制算法，通過(guò)ISO 9712無(wú)損檢測(cè)認(rèn)證，支持水下作業(yè)模式。  

熱銷工業(yè)型號(hào)：  

- Epic-Controller EC-9000：油氣管道智能監(jiān)控系統(tǒng)核心控制器，支持1000個(gè)并行任務(wù)處理，通信協(xié)議兼容Modbus/OPC UA，故障診斷響應(yīng)時(shí)間≤10 ms，通過(guò)API 1164安全認(rèn)證，防護(hù)等級(jí)IP68。  

- Epic-Sensor ES-7000：航空發(fā)動(dòng)機(jī)振動(dòng)監(jiān)測(cè)傳感器，加速度檢測(cè)范圍0-1000 g，頻帶響應(yīng)1-5000 Hz，數(shù)據(jù)采樣率100 kHz，通過(guò)FAA適航認(rèn)證，支持高溫（200℃）連續(xù)運(yùn)行。  

- Epic-Inspection EI-5000：半導(dǎo)體晶圓表面缺陷掃描儀，掃描精度±0.05 μm，缺陷分類準(zhǔn)確率99.9%，配備真空吸附平臺(tái)與激光校準(zhǔn)模塊，通過(guò)SEMATECH半導(dǎo)體設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。  

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：  

- 多模態(tài)數(shù)據(jù)融合：傳感器集成聲-光-熱多維檢測(cè)通道，數(shù)據(jù)融合誤差≤0.1%，適應(yīng)高噪聲工業(yè)環(huán)境。  

- 自適應(yīng)邊緣計(jì)算：控制器內(nèi)置動(dòng)態(tài)負(fù)載預(yù)測(cè)算法，支持本地實(shí)時(shí)決策與云端同步分析，延遲≤1 ms。  

- 腐蝕防護(hù)設(shè)計(jì)：檢測(cè)設(shè)備采用鈦合金外殼與納米涂層技術(shù)，耐鹽霧（2000小時(shí)ASTM B117）與化學(xué)腐蝕。  

應(yīng)用領(lǐng)域：  

- 能源工業(yè)：油氣管道泄漏監(jiān)測(cè)、核電站設(shè)備狀態(tài)評(píng)估。  

- 航空航天：發(fā)動(dòng)機(jī)葉片振動(dòng)檢測(cè)、機(jī)身復(fù)合材料缺陷分析。  

- 半導(dǎo)體制造：晶圓表面缺陷掃描、封裝工藝質(zhì)量監(jiān)控。  

Contact Epic通過(guò)德普瑞商城提供全球化供應(yīng)鏈服務(wù)，支持在線參數(shù)配置、定制化檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)及72小時(shí)緊急交付，確保工業(yè)客戶在自動(dòng)化控制與精密檢測(cè)場(chǎng)景中快速部署高可靠性解決方案。